应用半导体行业检测设备是宏観观察用的照明設備,可检测各种缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中*费人工的成形製品表面的异物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。
1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。 2. 因使用鹵素光源灯的光源,具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。 3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3 4. 二段切換構造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。 型号:YP-150I・・・照度範囲 φ30 型号:YP-250I・・・照度範囲 φ60 (YP-250I的通風機可選択螺旋式風扇或管道通風機形)
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