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頤光科技
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原廠供應光譜橢偏儀-eoptics頤光科技
SE-i
eoptics頤光科技SE-i 光譜橢偏儀 針對有機/無機鍍膜工藝研究的需要開發的原位薄膜在線監測中的定制化開發，可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，橢偏測量頭快速實現光學薄膜原位表征分析。
杭州熱銷eoptics頤光科技-光譜橢偏儀
SE-VF
eoptics頤光科技SE-m 是一款針對半導體行業定制的微區圖形結構測量的專用型光譜橢偏儀，其采用行業*新橢偏**技術，自主獨立研發出行業** 1 超小微光斑探測測量技術， 2 定制超快測量速度，等**技術。可應用透明各類襯底上的減反膜、導電膜等薄膜的n/k/d測量，**適用于微區圖形的各種光學參數解析。
代理eoptics頤光科技光譜橢偏儀（光伏）
SE-PV
eoptics頤光科技SE-PV光譜橢偏儀（光伏） SE-PV系列是針對光伏電池片特性專門設計的全光譜橢偏儀，基于旋轉補償器調制技術，一次性獲取Psi/Delta、N/C/S等偏振信號，能實現光伏行業中絨面和非絨面樣品的薄膜膜厚、光學常數的快速表征。
直供eoptics頤光科技-光譜橢偏儀
SE-VE
eoptics頤光科技SE-VE光譜橢偏儀 SE-VE是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成化設計，操作簡便，一鍵快速測量和向導交互式人機界面，具有豐富的材料數據庫和算法模型庫、強大的數據分析能力。
有售武漢eoptics頤光科技-光譜橢偏儀
SE-VM
eoptics頤光科SE-VM光譜橢偏儀 SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀,可實現科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度、微光斑、可視化調平系統等高兼容性靈活配置，支持多功能模塊定制化設計。
武漢eoptics頤光科技-進口光譜橢偏儀
ME-Mapping
eoptics頤光科技ME-Mapping光譜橢偏儀 Mapping系列光譜橢偏儀是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業前沿**技術，配置全自動Mapping運動機構，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現薄膜全基片的膜厚及光學參數自定義繪制化測量表征。
eoptics頤光科技-穆勒矩陣光譜橢偏儀
ME-L
eoptics頤光科技 ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業前沿的**技術，具備 1 全穆勒矩陣測量技術， 2 雙旋轉補償器同步控制技術，3 超級消色差補償器設計技術，4 納米光柵表征測量技術 等**技術。可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析，代表當今橢偏行業高精尖技術水平。
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