如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
日本SDD X射線熒光光譜儀
產品型號:
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
產品展商:
德國FISCHER菲希爾
簡單介紹
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日本SDD X射線熒光光譜儀的詳細介紹
X射線熒光光譜儀，FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®，FISCHER的產品介紹：
XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各
種底材上的Au/Ni， Au/PdNi/Ni， Ag/Ni或Sn/
Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如尖
端或突起，測量這些區域必須使用很小的準直器
或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品
時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強
度。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®的特征：
帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口
和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條
件:50KV,50W
X射線探測器采用比例接收器
準直器：固定或4個自動切換， 0.05 x
0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
基本濾片：固定或3個自動切換
測量距離可在0-80 mm范圍內調整
固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量
位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點
大小。
設計獲得許可，防護**，符合德國X射線
條例第4章第3節
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®的典型應用領域：
大批量電鍍件測量
防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
電鍍行業槽液分析
線路板行業如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
測量接插件和觸點的鍍層
電子和半導體行業的功能性鍍層測量
黃金，珠寶和手表行業