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大冢電子分子量測量系統蘇州杉本直銷[產品打印頁面]

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產品名稱: 大冢電子分子量測量系統蘇州杉本直銷
產品型號: ELSZ-2000ZS
產品展商: 其它品牌

簡單介紹
大冢電子分子量測量系統ELSZ-2000ZS蘇州杉本直銷

大冢電子分子量測量系統蘇州杉本直銷的詳細介紹

ζ電勢/粒度/分子量測量系統ELSZ-2000ZS

粒度測量原理:動態光散射法(光子相關法)

由于溶液中的顆粒具有取決于顆粒大小的棕色運動,因此當用光照射顆粒時獲得的散射光對于小顆粒顯示出快速的波動而對于大顆粒顯示出緩慢的波動。 ..
可以通過使用光子相關方法分析該波動來獲得粒徑和粒徑分布。由于溶液中的顆粒具有取決于顆粒大小的棕色運動,因此當用光照射顆粒時獲得的散射光對于小顆粒顯示出快速的波動而對于大顆粒顯示出緩慢的波動。 ..
可以通過使用光子相關方法分析該波動來獲得粒徑和粒徑分布。

分析流程

Zeta電位測量原理:電磁光散射法(激光多普勒法)

當對溶液中的顆粒施加電場時,根據顆粒的電荷觀察到電泳,因此可以從該電泳速度獲得ζ電位和電泳遷移率。電泳光散射法也稱為激光多普勒法,因為它用光照射正在電泳的顆粒并從獲得的散射光的多普勒頻移量獲得電泳速度。

 

測量電滲透流量的優點

電滲透流是在zeta電勢測量期間電池中發生的溶液流。當細胞壁表面帶電時,溶液中的抗衡離子會聚集在細胞壁表面上。當施加電場時,抗衡離子以相反的符號移動到電極側,并且在池的中心附近發生反向流動以補償流動。通過實際測量顆粒的表觀電泳遷移率并分析電滲流,可以獲得考慮到細胞污染(例如樣品的吸附和沉淀)影響的正確固定表面,并獲得了真正的ζ電勢和電泳遷移率。是必須的。(請參閱森/岡本的公式)

森-岡本公式在-
考慮電滲透流動細胞遷移率分析
ù OBS(Z)= AU 0(Z / B)2 +⊿U 0(Z / B)+(1-A)U 0 + U p

z:距像元中心位置的距離
Uobs(z):視在遷移率
A = 1 / [(2/3)-(0.420166 / k)]
k = a / b:像元在位置z中的2a和2b電泳池橫截面的水平和垂直長度。但是,a> b
Up:粒子的真實遷移率
U0:
單元上壁和下壁的平均遷移率⊿U0 單元上壁和下壁的遷移率差異

在電滲流多組分分析中的應用

由于ELSZ系列實際上測量電池中多個點的表觀電泳遷移率,因此可以檢查zeta電位分布的可重復性并確定測量數據中的噪聲峰。

 

應用于扁平電池

平板電池具有可以將平板樣品粘附并集成在盒狀石英電池的上表面上的結構。在細胞深度方向上的各個水平上測量監測顆粒的表觀電泳遷移率,并根據所獲得的電滲透曲線分析固體界面處的電滲透流的速度,并獲得平板樣品表面上的ζ電勢。可以做到。

 

濃縮樣品的Zeta電位測量原理

由于多重散射和吸收的影響,使用ELS系列難以測量不容易透射光的厚樣品和有色樣品。
當前,ELSZ系列的標準電池可以測量從稀薄到濃稠的各種范圍。對于更高濃度的樣品,現在可以使用FST方法*測量濃縮池中的ζ電勢。

分子量測量原理:靜態光散射法(光子相關法)

已知靜態光散射法是一種用于測量**分子量的簡單方法。
測量原理是用光照射溶液中的分子,并從獲得的散射光的**值獲得分子量。即,利用了從大分子獲得強散射光而從小分子獲得弱散射光的現象。
實際上,所獲得的散射光強度根據濃度而不同,因此實際上測量了幾種不同濃度的溶液的散射強度,其濃度在水平軸上,而散射強度的倒數在垂直軸上基于以下等式。繪制Kc / R(θ)。這稱為德拜圖。
分子量Mw可以從外推至零濃度的截面(c = 0)的倒數獲得,并且**二進制系數A2可以從初始梯度獲得。

對于分子量大的分子,散射強度會出現角度依賴性,因此,通過測量不同散射角(θ)的散射強度,可以提高分子量的測量精度,并可以獲得有關慣性半徑的信息,該信息是分子擴散的指標。你可以得到它。
當以固定角度進行測量時,通過輸入估算的慣性半徑,可以進行與角度相關的測量相當的校正,并且可以提高分子量的測量精度。

 

**二項式系數是多少?

它顯示了溶劑中分子之間的排斥和吸引程度,并且是溶劑對分子的親和力和結晶度的量度。

  • 如果A 2為正,則是具有高親和力和分子間排斥力的良好溶劑,因此容易穩定存在。
  • 如果A 2為負,則它是**的溶劑,具有低親和力和強烈的分子間吸引力,這使其更易于發生聚集。
  • 2= 0時的溶劑稱為θ溶劑,該溫度稱為θ溫度,當排斥力和吸引力平衡時,容易發生結晶。

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