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OTSUKA大塚電子非接觸式光學膜厚儀 [產品打印頁面]

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產品名稱: OTSUKA大塚電子非接觸式光學膜厚儀
產品型號: FE-300
產品展商: OTSUKA大塚電子

簡單介紹
安徽代理OTSUKA大塚厚量測儀 OTSUKA大塚電子非接觸式光學膜厚儀 AT-1500

OTSUKA大塚電子非接觸式光學膜厚儀 的詳細介紹

蘇州代理OTSUKA大塚厚量測儀

RETS-100采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板

可對應液晶line內的檢查設備

測量項目

封入cell gap
 twist角
rubbing角
 pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA]
 空cell gap
相位差(復折射相位差)的波長分散
光學軸

 橢圓率/方位角
三次元折射率/Rth/β
分光光譜/色度

測量對象

 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
光學材料
- 其他(相位差、橢圓?偏光膜、液晶材料)

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