OTSUKA大塚光學RE-200半導體[產品打印頁面]

蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢電子OTSUKA 蘇州新杉本直銷/聯系人陳小姐15250013623

特　長

• 0nmからの低（殘留）リタデーション測定が可能

• 光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能（世界*速相當0.1秒以下での処理が可能）

• 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現

• 設定する測定項目が少なく、測定が簡単

• 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ

• Rth測定、全方位角測定が可能（オプションの自動回転傾斜治具が必要です

• 引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能(このシステムは特注対応となります。）

特　長

• リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）

• 主軸方位角（θ[deg.]）

• 楕円率（ε）・方位角（γ）

• 三次元屈折率（NxNyNz）

特　長

• 位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム

• 樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）

特 點

• 可測從0nm開始的低（殘留）相位差• 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)（相當于世界*快速的0.1秒以下來處理）• 無驅動部，重復再現性高• 設置的測量項目少，測量簡單• 測量波長除了550nm以外，還有各種波長• Rth測量、全方位角測量（需要option的自動旋轉傾斜治具• 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性(本系統屬特注。）

測量項目

• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）• 主軸方位角（θ[deg.]）• 橢圓率（ε）・方位角（γ）• 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

• 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜• 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

• 什么是RE-200• RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。

仕　樣

 Option• Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉：180°, 傾斜：±50°）

• 動旋轉傾斜治具

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