OTSUKA大塚半導體檢測VR行業[產品打印頁面]

日本OTSUKA大冢相位差膜・光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光學材料檢查設備RETS-100

詳情介紹：

相位差膜・光學材料檢查設備　RETS-100

對應范圍廣，從反射型・透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應

產品信息

特　點

• 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器• 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板• **對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

測量項目

• 封入cell gap• twist角• rubbing角• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］• 空cell gap• 相位差（復折射相位差）的波長分散• 光學軸• 橢圓率/方位角• 三次元折射率/Rth/β• 分光光譜/色度

測量對象

• 液晶cell-　透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電）-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）• 光學材料-　其他（相位差・橢圓・偏光膜、液晶材料）

仕　樣

*　大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）

測量案例

相位差與液晶層間隙值

液晶面內分布圖

長期供應 大冢光學OTSUKA RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光學材料檢查設備RETS-100     蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢OTSUKA 蘇州新杉本直銷/聯系人陳小姐15250013623

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