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产品名称:
苏州杉本低相位差高速检查设备 RE-200
产品型号:
产品展商:
OTSUKA大塚电子
简单介绍
光轴的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差测量
苏州杉本低相位差高速检查设备 RE-200的详细介绍
低相位差高速检查设备 RE-200
产品信息
特 点
• 可测从0nm开始的低（残留）相位差
• 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于世界*快速的0.1秒以下来处理）
• 无驱动部，重复再现性高
• 设置的测量项目少，测量简单
• 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
• Rth测量、全方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
• 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）
测量项目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 椭圆率（ε）・方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
• 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
原 理
• 什么是RE-200
• RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。
仕 样
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型号
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RE series
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样品尺寸
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*小10×10mm ～*大100×100mm
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测量波长
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550nm （标准仕样）※1
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相位差测量范围
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约0nm ～约1μm
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轴检出重复精度
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0.05°（at 3σ） ※2
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检出器
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偏光计测模块
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测量光斑直径
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2.2mm×2.2mm
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光源
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100W 卤素灯或 LED光源
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本体・重量
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300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、约20kg
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Option
• Rth测量、全方位角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）
• 动旋转倾斜治具