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產品名稱:
蘇州杉本低相位差高速檢查設備 RE-200
產品型號:
產品展商:
OTSUKA大塚電子
簡單介紹
光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差測量
蘇州杉本低相位差高速檢查設備 RE-200的詳細介紹
低相位差高速檢查設備 RE-200
產品信息
特 點
• 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
• 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于世界*快速的0.1秒以下來處理）
• 無驅動部，重復再現性高
• 設置的測量項目少，測量簡單
• 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
• Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
• 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。）
測量項目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主軸方位角（θ[deg.]）
• 橢圓率（ε）・方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
• 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
• 什么是RE-200
• RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。
仕 樣
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型號
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RE series
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樣品尺寸
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*小10×10mm ～*大100×100mm
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測量波長
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550nm （標準仕樣）※1
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相位差測量范圍
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約0nm ～約1μm
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軸檢出重復精度
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0.05°（at 3σ） ※2
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檢出器
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偏光計測模塊
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測量光斑直徑
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2.2mm×2.2mm
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光源
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100W 鹵素燈或 LED光源
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本體・重量
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300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg
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Option
• Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉：180°, 傾斜：±50°）
• 動旋轉傾斜治具