•高度集成的4象限电压/电流源,提供业界*佳性能,分辨率6位半 • 系列型号具有业界*宽的动态量程:10A脉冲到0.1fA和200V到100nV • 内置基于Java的测试软件,通过任何WEB浏览器支持真正的即插即用I/V特性分析和测试 • 利用TSP (测试脚本处理)技术,在仪器内嵌入完整的测试程序,实现业界*佳的系统级吞吐量 • TSP-Link扩展技术,在无需主机情况下,实现多通道并行测试 • 软件仿真,与吉时利2400型数字源表源测量单元(SMU)仪表测试代码兼容 • USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232以及数字I/O接口 • 免费软件驱动与开发/调试工具 • 可选配ACS-Basic版本半导体器件特性分析软件
典型应用 各种器件的I-V功能测试和特征分析,包括: • 分立和无源元件 –两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻(MOV)、二极管、齐纳二极管、电容、热敏电阻 –三抽头器件——小信号双极结型晶体管(BJT)、场效应晶体管(FET),等等 • 简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器 • 集成器件——小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI) –模拟IC、射频集成电路(RFIC)、专用集成电路(ASIC)、片上系统(SOC)器件 • 光电器件,例如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直腔面发射激光器(VCSEL)、显示器 • 圆片级可靠性 –NBTI、TDDB、HCI、电迁移 • 太阳能电池 • 电池 • 更多……
在**和第三象限,2600B系列仪器用作信号源,向负载提供电源。在**和第四象限,2600B系列仪器用作信号宿,内部消耗功率。
2601B、2602B和2604B的I-V测试功能
2611B、2612B和2614B的I-V 测试功能
2634B、2635B和2636B的I-V 测试功能
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