•高度集成的4象限電壓/電流源,提供業界*佳性能,分辨率6位半 • 系列型號具有業界*寬的動態量程:10A脈沖到0.1fA和200V到100nV • 內置基于Java的測試軟件,通過任何WEB瀏覽器支持真正的即插即用I/V特性分析和測試 • 利用TSP (測試腳本處理)技術,在儀器內嵌入完整的測試程序,實現業界*佳的系統級吞吐量 • TSP-Link擴展技術,在無需主機情況下,實現多通道并行測試 • 軟件仿真,與吉時利2400型數字源表源測量單元(SMU)儀表測試代碼兼容 • USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232以及數字I/O接口 • 免費軟件驅動與開發/調試工具 • 可選配ACS-Basic版本半導體器件特性分析軟件
典型應用 各種器件的I-V功能測試和特征分析,包括: • 分立和無源元件 –兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻 –三抽頭器件——小信號雙極結型晶體管(BJT)、場效應晶體管(FET),等等 • 簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感器、轉換器、穩壓器 • 集成器件——小規模集成(SSI)和大規模集成(LSI) –模擬IC、射頻集成電路(RFIC)、專用集成電路(ASIC)、片上系統(SOC)器件 • 光電器件,例如發光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發射激光器(VCSEL)、顯示器 • 圓片級可靠性 –NBTI、TDDB、HCI、電遷移 • 太陽能電池 • 電池 • 更多……
在**和第三象限,2600B系列儀器用作信號源,向負載提供電源。在**和第四象限,2600B系列儀器用作信號宿,內部消耗功率。
2601B、2602B和2604B的I-V測試功能
2611B、2612B和2614B的I-V 測試功能
2634B、2635B和2636B的I-V 測試功能
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