日本电测densoku（株式会社电测）成立于1952年，总部位于日本东京都品川区，
是专注于电镀、喷涂膜厚测量的综合性专业制造商。
其产品以电解式测厚仪为核心，广泛应用于电子线材、汽车、钢铁等行业。
主营产品
电解式测厚仪
采用电解原理测量金属表面涂层厚度，具有高灵敏度、轻量化设计，适用于电子元件、汽车部件等精密测量。
荧光X射线胶片测厚仪
通过X射线检测胶片上的涂层厚度，适用于电子元器件的离线检测。
涡流膜厚计/电阻式膜厚计
采用涡流或电阻原理测量非导电涂层厚度，支持快速检测。
便携式膜厚仪
适用于现场快速检测，覆盖多种涂层类型，如油漆、塑料等。
日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
X射线荧光涂层测厚仪EX-731的特点
双过滤器
除了气动过滤器外，还使用了两种类型的机械过滤器，即 Co 和 Ni，
即使在具有相邻原子序数的 Cu 上 Ni 和 Zn 上 Cu 的基材和涂层的组合中也能实现**测量。
自动测量台
自动舞台类型提供以下功能：
・连续自动测量 ・通过鼠标点击对齐 ・两点之间的距离测量 ・全自动校准 ・图像分发日测量
统计处理功能
您可以显示和打印各种统计数据和图表。
用狭缝覆盖
机身盖上有一个狭缝，因此您甚至可以测量很长的测量值而无需切割它们。
5 个内置准直器
标配 0.1、0.2、0.5、1.0 和 2.0 mm φ 5 种准直器。
此外，还提供 0.05 mm φ、0.05 mm φ× 0.5 mm φ准直器作为选项。
控制 ExWin
作由Windows电脑上的控制软件ExWin执行，作方便。 您可以使用电子表格软件轻松导入数据。
Be 窗口 X 射线管
现在可以使用窗户 X 射线管。 通过使用Be窗口X射线管，可以使用0.05mmφ等小型准直器进行测量，
并以良好的精度测量Ti和Cr等轻元素。
自动对焦提高工作速度。
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类型
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手动舞台
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自动舞台
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测量头部
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尺寸（毫米）
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170×110
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300×280
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移动音量
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X（mm）
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70
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80
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Y（mm）
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70
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60
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Z（mm）
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80（测量物体高度，*高可达150）
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50
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物体高度（*大）
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80（选项150）
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50
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尺寸（毫米）
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600（W）×465（D）×730（H）
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体重（公斤）
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79
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85
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样品载荷（公斤）
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3
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2
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计算机
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尺寸（毫米）
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主机182（西）×383（D）×372（H）
/监视机412（西）×415（D）x 432（H）
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Body 6.8 / Monitor 2.8
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体重（公斤）
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3.4
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电源
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AC100V+10V
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X射线源
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油浸微型微聚焦X射线管
靶：钨
管电压50kV
管电流可变
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照射方法
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上述垂直辐照方法
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探测器
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比例计数管
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准直器
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5种类型（自动切换）10.1
、0.2、0.5、1.0、2.0 Φmm
（可选）：
0.05、0.1、0.2、0.3、0.5，Φ
：0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5Φ
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样本观察
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CCD彩色相机
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计算机
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PC/AT兼容
的17英寸彩色显示器
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印刷厂
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喷墨打印机
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测量对象
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原子序数为22（Ti）~82（Pb），原子
序数21及以下可以通过吸收法测量。
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滤波器
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两种类型（CO，Ni）自动切换
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可测量范围
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原子序数 22~24： 0.02~约 20μm 原子
序数 25~40： 0.01~约 30μm 原子
序数 41~51： 0.02~约 70μm 原子
序数 52~82： 0.05~约 10μm
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校准曲线
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自动校准曲线创建函数 多点校准曲线
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校正函数
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基础校正
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应用
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单层镀层测量
、双层镀层测量
、三层电镀测量
、合金薄膜厚度组分比同时测量
、无电镍测量。
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测量功能
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自动测量
，输出模式设置
，光谱测量
，两点间距离，测量
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自动表函数
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测量位置指示（X-Y-Z）
相同模式重复功能
原点校正函数
测量位置确认函数
自动校准
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数据处理能力
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统计显示：平均值、标准差、*大值、*小值、范围、CP、CPK
直方图、直方图、测量数据显示
、3D显示
、X-R控制图
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**特征
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X射线电源键开关
故障保护功能
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其他特色
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舞台坐标显示
密码功能
设备维护与维护
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