日本电测densoku高灵敏度膜厚计[产品打印页面]

自1952年成立以来，我们DENSOKU通过广泛的薄膜厚度测量设备阵容，为日本表面处理行业做出了贡献，包括作为标准测量仪器的薄膜厚度计，这些测量仪器在通产省的JIS标准制定中作为标准测量仪器，并率先在行业中开发电解薄膜厚度计。我们的目标是建立一个能够为社会做出贡献的公司，并创造人类。我们不断努力提高自己的能力和人性，为员工创造幸福和公司发展。以更高的技术为目标，提供更上等的产品，为“客户满意度”服务。建立客户和业务合作伙伴信任的公司，并持续盈利。

DENSOKU/电测的产品分类：
  1、多点同步测量涡流膜厚计
  2、荧光X射线膜厚度计
  3、电解膜厚度计
  4、涡流膜厚度计
  5、电阻式膜厚计
  6、便携式薄膜厚度计

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线 
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度 
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3 
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式 
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准 

产品特点

• 高精度测量：采用高精度恒流源，确保测量精度可达±1%，分辨率高达0.001μm。
• 多层镀层分析：支持*多5层镀层的测量条件设定，包括多层镍镀层的电位差分析。
• 智能化操作：在微软视窗下作业，数据处理及机能性更加多样。软件具有电位图显示功能，可设定上下限值，超差时红色警示并伴有蜂鸣报警。
• 数据处理与管理：可对测量数据进行统计处理，包括平均值、标准差等，并可导出或打印数据，方便用户进行质量控制和报告生成。
• 非破坏式校准：具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪，确保测量精度的长期稳定。
• 适应性强：适用于多种金属基材（如铜、铝、钢等）及镀层（如金、银、镍、铬等），并能自动识别适用的电解液类型。

应用场景

技术参数

• 测量范围：0.006~300μm
• *小分解能：0.001μm
• 本体精度：±1%
• 测量单位：μm, mm, mil, MI
• 测量面积：
• A型测头：3.4mmΦ
• B型测头：2.5mmΦ
• C型测头：1.8mmΦ
• 电源：AC100V
• 本体尺寸：W265×D215×H138mm
• 重量：4.5kg

电解涂层测厚仪CT-3的特点

轻巧、紧凑

它重 3.0 公斤，重量轻，机身非常紧凑。

增加了高灵敏度范围

在灵敏度设置方面，可以设置比之前型号更高的灵敏度，提高测量的稳定性。

广泛的校准范围

通过在标准板上校准，它具有 ±15% 的宽校准范围。

可实现 1/100 范围

它能够达到1/100范围（以0.001 μm为增量进行测量），也可用于Au和Cr等薄膜电镀。

标配三个垫片系列

垫片有3.4φ、2.5φ、1.8φ三种。

包括主动功能

主动功能允许去除一些氧化膜，从而减少氧化膜测量的失败。

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