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产品名称:
高精度日本电测DENSOKU镀膜测厚仪
产品型号:
EX-851
产品展商:
DENSOKU电测
简单介绍
日本电测densoku是专注于电镀、喷涂膜厚测量的综合性专业制造商。其产品以电解式测厚仪为核心，广泛应用于电子线材、汽车、钢铁等行业。
高精度日本电测DENSOKU镀膜测厚仪的详细介绍
在金属镀层检测领域，日本电测(Densoku)的电解式测厚仪凭借其精度和可靠性赢得了全球用户的信赖。其中GCT-311、CT-6和CT-3三款机型构成了完整的产品矩阵，覆盖从基础品控到科研分析的各类需求。
日本电测的电解式测厚仪均基于法拉第电解定律，通过可控电流溶解镀层并依据溶解时间计算厚度，但三款机型在技术实现上存在显著差异。
GCT-311代表了该系列的*高技术水平，采用0.1%稳定性的高精度恒流源，支持多达四层镀层(含扩散层)的逐层分析。其0.001Mm(1nm)的分辨率能够满足*严苛的科研需求，特别适合航空航天多层镍镀层的电位差分析(STEP测试)等高应用。该机型还具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪。
CT-6则针对工业环境进行了优化，采用快速电解算法，单次测量时间可控制在30秒以内，大幅提升产线检测效率。虽然其具体测量范围未公开，但专注于工业快速检测的平衡性设计使其在半导体薄膜(如SiO2、SiN4)测量方面表现突出，可适配特殊电解液。CT-6的精度保持在1%，但牺牲了部分多层分析能力，*大仅支持两层镀层的测量。
CT-3作为经济型选择，保留了0.001Mm分辨率和1%精度的基础性能，采用机械式刻度盘调节而非电脑控制，操作更为简单直接。它支持三层镀层(含扩散层)的测量，在超薄层(<1um)与厚镀层(300um)检测方面表现出色。CT-3的IP54防尘等级使其能够适应车间等相对恶劣的环境。
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日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线
X射线荧光涂层测厚仪EX-851的特点
X射线荧光涂层厚度计EX-851的特点
可选择两种测量模式
提供两种模式可供选择，使
测量作能够平稳地满足具体应用需求。
多测量与多校准曲线
坐标被注册以自动
测量激光点辐照位置的多个点。 多个点可以用不同的校准曲线进行测量。
胶片厚度测量中的光谱显示
胶片厚度测量中的光谱显示 多通道光谱分析 快速处理，用于简单被测物体的光谱显示（处理速度2~3秒）
显示测量单位监控屏幕
将X射线照射部分导入Windows屏幕，并显示X射线照射部分。
准直器实现放大变化函数，改变尺寸。
自动测量模式
当测量对象设置在激光笔照射位置并关闭门时，载物台自动移动并
自动进行测量。
手动测量模式
测量对象设置在激光笔照射位置，当门关闭时，载物台自动移动，
甚至聚焦在它上面。
配备自动对焦功能
采用激光自动对焦。
自动对焦提高工作速度。
测量台移动精度 1μm
测量台移动的精度提高（是当前产品的50倍），通过坐标设置的
连续测量和移动到指定位置，实现了**的载物台移动。
双过滤器
除了气动过滤器外，使用机械过滤器（双过滤器）还可以让您在条件下进行测量，以确保始终保持精度。
完整的报告创建功能
通过采用MS-Window软件，可以轻松捕获测量屏幕，并增强报告创建功能。 多任务处理功能允许在测量时进行其他处理，包括报告。
5 个内置准直器
准直器的*小尺寸为 0.1 φ mm，可以测量极小的零件。 标准：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
此外，还可以选择特殊规格。
自我诊断和 X 射线管维护功能
自诊断功能可立即响应设备故障排除。 此外，X射线管还增加了显示使用时间和耐久性时间的功能，以支持维护**。
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EX-851
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测量台尺寸（毫米）
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200 x 200
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移动音量
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X（mm）
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200
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Y（mm）
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200
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Z（mm）
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90
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测量物体高度（毫米）
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90
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尺寸（毫米）
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740（W） × 530（D） × 660（H） *不包括突出物
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体重（公斤）
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85
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样品载荷（公斤）
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1
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计算机
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尺寸（毫米）
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车身 182（西）×383（D） × 372（H）
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显示器 412（W） x 415（D） × 432（H）
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体重（公斤）
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Body 6.8 / Monitor 2.8
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印刷厂
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体重（公斤）
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3.4
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电源
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AC100V±10V
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X射线源
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油浸式小型微焦点X射线管
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目标：钨
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管电压 50kV
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管电流变量
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照射方法
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上述垂直辐照方法
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探测器
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比例计数管
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准直器
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5种类型（自动切换）
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0.1， 0.2， 0.5， 1.0， 2.0Φmm
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（可选）
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: 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5,Φ
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： 0.05×0.5,0.5×0.05， 0.1， 0.2， 0.5gΦ
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样本观察
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（CCD彩色相机（自动对焦）
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计算机
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PC/AT兼容
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17英寸彩色显示器
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印刷厂
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喷墨打印机
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测量对象
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原子序数22（Ti）~82（Pb）
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原子序数21及以下可以通过吸收法测量
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滤波器
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两种类型（Co，Ni）自动切换
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可测量范围
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原子序数22~24：0.02~约20微米
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原子序数25~40：0.01~约30微米
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原子序数41~51：0.02~约70微米
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原子序数52~82：0.05~约10微米
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校准曲线
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自动校准曲线创建函数
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多点校准曲线
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校正函数
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基础校正
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应用
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单层电镀测量
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两层电镀测量
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三层电镀测量
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同时测定合金薄膜厚度组分比
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无电镍测量
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测量功能
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自动测量
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输出格式设置
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光谱测量
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两点之间的距离测量
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自动表函数
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自动对焦
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测量位置指定（X-Y-Z）
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原点校正函数
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测量位置确认函数
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自动校准
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数据处理能力
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统计显示：均值、标准差、*大值、*小值、范围、CP、cpk
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直方图
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配置文件显示
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测量数据的3D显示
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X-R控制图
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**特征
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X射线电源键开关
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失效**功能
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其他特色
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舞台坐标显示
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设备维护与维护
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