电测DENSOKU便携式涂层测厚仪[产品打印页面]

电测DENSOKU便携式涂层测厚仪超轻量级无线测量仪QNIx系列

无需胶片校准即可**测量胶片厚度

工厂出厂时已配备16点校准数据。
这消除了繁琐的胶片校准任务，确保胶片厚度测量的准确性。

涂层厚度测量数据传输的新技术。

传统测量仪器通过电缆将仪器本体与个人电脑连接以传输测量数据。 QNIx系列使用一个“无线接收器”，只需插入USB端口即可传输。 测量数据可以更快更便捷地查看。

超轻量无线测量仪器

探头测量的数据通过无线传输到主机。 它还能降低被电缆卡住、碍事并像传统产品一样导致坠落事故的风险。 探头重量为30克，非常轻便，所以你不需要携带沉重的仪器。

这种探针不易破坏，且在被测物体上不留痕迹

QNIx系列探头外包有增强塑料，耐用性提升30%。 在极不可能发生故障的情况下，拆解和修理很容易，从而缩短维修时间。 它还配备了测距仪，以确保**测量且不会损坏物体（样品）。

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在金属镀层检测领域，日本电测(Densoku)的电解式测厚仪凭借其精度和可靠性赢得了全球用户的信赖。其中GCT-311、CT-6和CT-3三款机型构成了完整的产品矩阵，覆盖从基础品控到科研分析的各类需求。
日本电测的电解式测厚仪均基于法拉第电解定律，通过可控电流溶解镀层并依据溶解时间计算厚度，但三款机型在技术实现上存在显著差异。
GCT-311代表了该系列的*高技术水平，采用0.1%稳定性的高精度恒流源，支持多达四层镀层(含扩散层)的逐层分析。其0.001Mm(1nm)的分辨率能够满足*严苛的科研需求，特别适合航空航天多层镍镀层的电位差分析(STEP测试)等高应用。该机型还具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪。
CT-6则针对工业环境进行了优化，采用快速电解算法，单次测量时间可控制在30秒以内，大幅提升产线检测效率。虽然其具体测量范围未公开，但专注于工业快速检测的平衡性设计使其在半导体薄膜(如SiO2、SiN4)测量方面表现突出，可适配特殊电解液。CT-6的精度保持在1%，但牺牲了部分多层分析能力，*大仅支持两层镀层的测量。
CT-3作为经济型选择，保留了0.001Mm分辨率和1%精度的基础性能，采用机械式刻度盘调节而非电脑控制，操作更为简单直接。它支持三层镀层(含扩散层)的测量，在超薄层(<1um)与厚镀层(300um)检测方面表现出色。CT-3的IP54防尘等级使其能够适应车间等相对恶劣的环境。

技术发展趋势与未来展望
随着制造业对质量要求的不断提高，电解测厚技术也在持续演进。日本电测的这三款机型代表了不同发展阶段的技术结晶，而未来趋势可能集中在以下几个方向:智能化集成:GCT-311已经展现出将测厚仪转变为工艺控制节点的潜力，未来可能进一步整合AI算法，实现镀层生长的实时预测和自动工艺调整57。通过与数字李生系统联动，测量数据可直接反馈至虚拟产线进行工艺优化，构建真正的智能电镀生态系统。
应用范围扩展:现有机型已能覆盖大多数金属镀层，但对新型纳米复合材料(如TiAIN/TiN叠层)的测量仍存挑战。下一代产品可能需要开发专用电解液和算法，满足新兴涂层技术的检测需求。用户体验优化:CT-6的快速测量理念可能进一步强化，未来工业机型或实现10秒内完成检测，同时保持1%精度。触控屏、语音交互等现代化操作方式也有望引入，降低技术门槛。对于当前用户而言，选择GCT-311、CT-6还是CT-3，不仅应考虑当下需求，还需预留适当的技术前瞻性。特别是计划进行智能制造升级的企业，GCT-311的数字化基因将更容易融入未来工厂架构。

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