日本電測densoku高靈敏度膜厚計[產品打印頁面]

自1952年成立以來，我們DENSOKU通過廣泛的薄膜厚度測量設備陣容，為日本表面處理行業做出了貢獻，包括作為標準測量儀器的薄膜厚度計，這些測量儀器在通產省的JIS標準制定中作為標準測量儀器，并率先在行業中開發電解薄膜厚度計。我們的目標是建立一個能夠為社會做出貢獻的公司，并創造人類。我們不斷努力提高自己的能力和人性，為員工創造幸福和公司發展。以更高的技術為目標，提供更上等的產品，為“客戶滿意度”服務。建立客戶和業務合作伙伴信任的公司，并持續盈利。

DENSOKU/電測的產品分類：
  1、多點同步測量渦流膜厚計
  2、熒光X射線膜厚度計
  3、電解膜厚度計
  4、渦流膜厚度計
  5、電阻式膜厚計
  6、便攜式薄膜厚度計

日本電測DENSOKU熒光X射線鍍膜測厚儀EX-851多校準曲線 
日本DENSOKU熒光涂層測厚儀EX-731自動測量臺
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計COSMOS-3X
日本電測DENSOKU電解膜測厚儀 GCT-311全功能PC規范
DENSOKU電測進口電解膜測厚儀CT-6提高電流精度 
日本電測儀器densoku電解式膜厚計/厚度儀/測量裝置CT-3 
DENSOKU電測渦流測厚儀DMC-211配備自動拍攝模式 
日本DENSOKU電測渦流測厚儀高精度晶體振蕩系統DS-110
電測DENSOKU電阻式涂層測厚儀0.7 秒內測量RST-231
電測DENSOKU便攜式涂層測厚儀QNIx系列無需薄膜校準 

產品特點

• 高精度測量：采用高精度恒流源，確保測量精度可達±1%，分辨率高達0.001μm。
• 多層鍍層分析：支持*多5層鍍層的測量條件設定，包括多層鎳鍍層的電位差分析。
• 智能化操作：在微軟視窗下作業，數據處理及機能性更加多樣。軟件具有電位圖顯示功能，可設定上下限值，超差時紅色警示并伴有蜂鳴報警。
• 數據處理與管理：可對測量數據進行統計處理，包括平均值、標準差等，并可導出或打印數據，方便用戶進行質量控制和報告生成。
• 非破壞式校準：具備非破壞式校準功能，可制作標準板用于校準其他測厚儀，確保測量精度的長期穩定。
• 適應性強：適用于多種金屬基材（如銅、鋁、鋼等）及鍍層（如金、銀、鎳、鉻等），并能自動識別適用的電解液類型。

應用場景

技術參數

• 測量范圍：0.006~300μm
• *小分解能：0.001μm
• 本體精度：±1%
• 測量單位：μm, mm, mil, MI
• 測量面積：
• A型測頭：3.4mmΦ
• B型測頭：2.5mmΦ
• C型測頭：1.8mmΦ
• 電源：AC100V
• 本體尺寸：W265×D215×H138mm
• 重量：4.5kg

電解涂層測厚儀CT-3的特點

輕巧、緊湊

它重 3.0 公斤，重量輕，機身非常緊湊。

增加了高靈敏度范圍

在靈敏度設置方面，可以設置比之前型號更高的靈敏度，提高測量的穩定性。

廣泛的校準范圍

通過在標準板上校準，它具有 ±15% 的寬校準范圍。

可實現 1/100 范圍

它能夠達到1/100范圍（以0.001 μm為增量進行測量），也可用于Au和Cr等薄膜電鍍。

標配三個墊片系列

墊片有3.4φ、2.5φ、1.8φ三種。

包括主動功能

主動功能允許去除一些氧化膜，從而減少氧化膜測量的失敗。

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