如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
DENSOKU電測曲面球面測厚儀
產品型號:
DS-110
產品展商:
DENSOKU電測
簡單介紹
日本電測densoku是專注于電鍍、噴涂膜厚測量的綜合性專業制造商。其產品以電解式測厚儀為核心，廣泛應用于電子線材、汽車、鋼鐵等行業。
DENSOKU電測曲面球面測厚儀的詳細介紹
渦流涂層測厚儀DS-110的特點
易于閱讀的數字
測量值顯示是數字的，易于閱讀。
4 種標準和多達 70 種不同的膜厚測量
通過撥動開關，*多可以進行四種類型的薄膜厚度測量。
此外，通過更換制造商的檢查線，可以進行 70 多種類型的膜厚測量。
測量彎曲、球形和管道內部
它還可以測量曲面和球面。
還可以測量管道和其他材料的內表面（φ12.7 mm以上）。
即時測量
開關打開后即可進行測量。 測量時間也小于1秒。
高穩定性（±1%）高精度
晶體振蕩系統提供高穩定性（±1%）和高精度。
可進行**檢查
由于它是無損的，因此可以進行**檢查。
無需轉換
它是一種直接讀取方法，不需要轉換。
存儲多達 1000 個數據
1000 個數據可存儲在一條檢測線上
測量非金屬上的金屬涂層
它可以測量非金屬上的金屬涂層（例如塑料上的電鍍）。
|
電源
|
交流100V~240V，配交流適配器
|
|
尺寸
|
330（W）×90（D）×180（H）mm
（備注）規格如有變更，恕不另行通知。
|
|
重量
|
3.4公斤
|
1. 使用
超細探針時的探針效應范圍
|
Φ5mm
Φ3mm
|
|
2. 探針線長度
|
900毫米
|
|
3. 根據導向的類型，在曲面上進行測量
|
|
4. 探針類型
|
MP型 適用于平面和不平整表面（標準）
SM型 適用于平面和不平整表面（超細）
RP型 適用于曲面和管道內
表面 適用于小直徑管道內表面
上述探針根據測量薄膜厚度分為四種類型：A、B、C、D。
|
|
5. 探測指南
|
#180：用于
平面測量 #120：用于Φ25~60mm凸面測量
|
自1952年成立以來，我們DENSOKU通過廣泛的薄膜厚度測量設備陣容，為日本表面處理行業做出了貢獻，包括作為標準測量儀器的薄膜厚度計，這些測量儀器在通產省的JIS標準制定中作為標準測量儀器，并率先在行業中開發電解薄膜厚度計。我們的目標是建立一個能夠為社會做出貢獻的公司，并創造人類。我們不斷努力提高自己的能力和人性，為員工創造幸福和公司發展。以更高的技術為目標，提供更上等的產品，為“客戶滿意度”服務。建立客戶和業務合作伙伴信任的公司，并持續盈利。
DENSOKU/電測的產品分類：
1、多點同步測量渦流膜厚計
2、熒光X射線膜厚度計
3、電解膜厚度計
4、渦流膜厚度計
5、電阻式膜厚計
6、便攜式薄膜厚度計
日本電測DENSOKU熒光X射線鍍膜測厚儀EX-851多校準曲線
日本DENSOKU熒光涂層測厚儀EX-731自動測量臺
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計COSMOS-3X
日本電測DENSOKU電解膜測厚儀 GCT-311全功能PC規范
DENSOKU電測進口電解膜測厚儀CT-6提高電流精度
日本電測儀器densoku電解式膜厚計/厚度儀/測量裝置CT-3
DENSOKU電測渦流測厚儀DMC-211配備自動拍攝模式
日本DENSOKU電測渦流測厚儀高精度晶體振蕩系統DS-110
電測DENSOKU電阻式涂層測厚儀0.7 秒內測量RST-231
電測DENSOKU便攜式涂層測厚儀QNIx系列無需薄膜校準
產品特點
-
高精度測量：采用高精度恒流源，確保測量精度可達±1%，分辨率高達0.001μm。
-
多層鍍層分析：支持*多5層鍍層的測量條件設定，包括多層鎳鍍層的電位差分析。
-
智能化操作：在微軟視窗下作業，數據處理及機能性更加多樣。軟件具有電位圖顯示功能，可設定上下限值，超差時紅色警示并伴有蜂鳴報警。
-
數據處理與管理：可對測量數據進行統計處理，包括平均值、標準差等，并可導出或打印數據，方便用戶進行質量控制和報告生成。
-
非破壞式校準：具備非破壞式校準功能，可制作標準板用于校準其他測厚儀，確保測量精度的長期穩定。
-
適應性強：適用于多種金屬基材（如銅、鋁、鋼等）及鍍層（如金、銀、鎳、鉻等），并能自動識別適用的電解液類型。
應用場景
廣泛應用于電鍍、陽極氧化、表面處理等行業的質量控制及實驗室分析。它適用于多種行業，如電子元器件、五金件與緊固件、汽車零部件、珠寶與裝飾品等。
技術參數
-
測量范圍：0.006~300μm
-
*小分解能：0.001μm
-
本體精度：±1%
-
測量單位：μm, mm, mil, MI
-
測量面積：
-
A型測頭：3.4mmΦ
-
B型測頭：2.5mmΦ
-
C型測頭：1.8mmΦ
-
電源：AC100V
-
本體尺寸：W265×D215×H138mm
-
重量：4.5kg
