如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計
產品型號:
COSMOS-3X
產品展商:
DENSOKU電測
簡單介紹
日本電測densoku是專注于電鍍、噴涂膜厚測量的綜合性專業制造商。其產品以電解式測厚儀為核心,廣泛應用于電子線材、汽車、鋼鐵等行業。
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計的詳細介紹
日本電測densoku(株式會社電測)成立于1952年,總部位于日本東京都品川區,
是專注于電鍍、噴涂膜厚測量的綜合性專業制造商。
其產品以電解式測厚儀為核心,廣泛應用于電子線材、汽車、鋼鐵等行業。
主營產品
電解式測厚儀
采用電解原理測量金屬表面涂層厚度,具有高靈敏度、輕量化設計,適用于電子元件、汽車部件等精密測量。
熒光X射線膠片測厚儀
通過X射線檢測膠片上的涂層厚度,適用于電子元器件的離線檢測。
渦流膜厚計/電阻式膜厚計
采用渦流或電阻原理測量非導電涂層厚度,支持快速檢測。
便攜式膜厚儀
適用于現場快速檢測,覆蓋多種涂層類型,如油漆、塑料等。
日本電測DENSOKU熒光X射線鍍膜測厚儀EX-851多校準曲線
日本DENSOKU熒光涂層測厚儀EX-731自動測量臺
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計COSMOS-3X
日本電測DENSOKU電解膜測厚儀 GCT-311全功能PC規范
DENSOKU電測進口電解膜測厚儀CT-6提高電流精度
日本電測儀器densoku電解式膜厚計/厚度儀/測量裝置CT-3
DENSOKU電測渦流測厚儀DMC-211配備自動拍攝模式
日本DENSOKU電測渦流測厚儀高精度晶體振蕩系統DS-110
電測DENSOKU電阻式涂層測厚儀0.7 秒內測量RST-231
電測DENSOKU便攜式涂層測厚儀QNIx系列無需薄膜校準
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計COSMOS-3X
X射線熒光涂層測厚儀COSMOS-3X的特點
雙過濾器
除了氣動過濾器外,還使用了兩種類型的機械過濾器,即 Co 和 Ni,
即使在具有相鄰原子序數的 Cu 上 Ni 和 Zn 上 Cu 的基材和涂層的組合中也能實現**測量。
5 個內置準直器
標配 0.1、0.2、0.5、1.0 和 2.0 mm φ 5 種準直器。
此外,還提供 0.05 mm φ、0.05 mm φ× 0.5 mm φ準直器作為選項。
具有自診斷功能的維護
自動診斷功能,快速處理設備故障排除。
它還顯示 X 射線管的使用時間和剩余壽命,以支持可維護性。
控制 ExWin
作由Windows電腦上的控制軟件ExWin執行,作方便。 您可以使用電子表格軟件輕松導入數據。
統計處理功能
您可以顯示和打印各種統計數據和圖表。
Be 窗口 X 射線管
現在可以使用窗戶 X 射線管。 通過使用Be窗口X射線管,可以使用0.05mmφ等小型準直器進行測量,
并以良好的精度測量Ti和Cr等輕元素。
|
類型
|
手動舞臺
|
|
測量頭部
|
尺寸(毫米)
|
170×110
|
|
移動音量
|
X(mm)
|
70
|
|
Y(mm)
|
70
|
|
Z(mm)
|
80
|
|
物體高度(*大)
|
80
|
|
尺寸(毫米)
|
402(西)×430(民主)×580(民選)
|
|
體重(公斤)
|
48
|
|
樣品載荷(公斤)
|
3
|
|
計算機
|
尺寸(毫米)
|
主機182(西)×383(D)×372(H)
/監視機412(西)×415(D)x 432(H)
|
|
Body 6.8 / Monitor 2.8
|
|
體重(公斤)
|
3.4
|
|
電源
|
AC100V+10V
|
|
X射線源
|
油浸微型微聚焦X射線管
靶:鎢
管電壓50kV
管電流可變
|
|
照射方法
|
上述垂直輻照方法
|
|
探測器
|
比例計數管
|
|
準直器
|
5種類型(自動切換)0.1、0.2、0.5、1.0、2.0 Φmm
(可選):
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5,Φ
:0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5Φ
|
|
樣本觀察
|
CCD彩色相機
|
|
計算機
|
PC/AT 兼容
15 英寸彩色顯示器
|
|
印刷廠
|
噴墨打印機
|
|
測量對象
|
原子序數為22(Ti)~82(Pb),原子
序數21及以下可以通過吸收法測量。
|
|
濾波器
|
兩種類型(Co,Ni)自動切換
|
|
可測量范圍
|
原子序數 22~24: 0.02~約 20μm 原子
序數 25~40: 0.01~約 30μm 原子
序數 41~51: 0.02~約 70μm 原子
序數 52~82: 0.05~約 10μm
|
|
校準曲線
|
自動校準曲線創建函數 多點校準曲線
|
|
校正函數
|
基礎校正
|
|
應用
|
單層鍍層測量
、雙層鍍層測量
、三層電鍍測量
、合金薄膜厚度組分比同時測量
、無電鎳測量。
|
|
測量功能
|
輸出模式設置
頻譜測量
兩點間距離測量
|
|
數據處理能力
|
統計顯示:平均值、標準差、*大值、*小值、范圍、CP、Cpk
直方圖剖面顯示
X-R 控制圖表
|
|
**特征
|
X射線電源鍵開關
故障保護功能
|
|
其他特色
|
密碼功能
設備維護與維護
|