OTSUKA大塚电子 - 苏州市新杉本电子科技有限公司

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	FPR 系列日本CCS苏州	FPR 系列从形成角度的发光面照射低角度扩散光。用途：金属零件的边缘检测、电子零件的字符识别等
	日本ccs LKR 系列	LKR 系列从形成角度的发光部照射扩散光。用途：通过焊锡检测、颜色识别进行不同品种混入检测、光泽表面的污垢检测等
	SQR-TP 系列日本ccs代理	SQR-TP 系列从形成角度的发光部低角度照射直射光。用途：金属零件的外观检测、损伤与污垢检测等
	江苏苏州SQR 系列日本CCS	SQR 系列从上方照射直射光。用途：字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、二维代码读取等
	日本CCS LDR-LA1 系列	LDR-LA1 系列从水平方向的发光部低角度照射直射光。用途：金属表面的刻印、损伤与污垢检测、异物混入检测等
	日本LDR2-LA 系列SSC江苏苏州	LDR2-LA 系列从形成角度的发光部低角度照射直射光。用途：金属表面的刻印、损伤与污垢检测、异物混入检测等
	日本CCS LDR2 系列	LDR2 系列从形成角度的发光部照射直射光。用途：字符识别、外观检测、损伤与污垢检测、二维代码读取等
	量子效率测量系统　QE-2000/2100	量子效率测量系统　QE-2000/2100 瞬间测量优良量子效率（优良量子收率）。适用于粉体、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低迷光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域的迷光。另，采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系的同时，运用其再激励荧光補正的优点，可进行高精度的测量。另，QE-2100对应范围广，从量子效率的温度依赖性测量或紫外～近红的的波长范围。
	华东区域销售多通道分光光谱仪 MCPD-9800 6800	多通道分光光谱仪 MCPD-9800 6800

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