OTSUKA大塚电子 - 苏州市新杉本电子科技有限公司

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主营产品：SHIBUYA涉谷光学MUSASHI武藏点胶机HOYA豪雅UV光箱KURABO仓纺脱泡机YAMADA山田泵lambda-visio拉姆达Aitec艾泰克SAKURAI樱井无尘纸OBISHI大菱计器CEDAR杉崎PISCO匹士克真空发生器valcom沃康cocoresearch可可里萨奇IIJIMA饭岛电子SIBATA柴田科学YAMAMOTO山本科学工具NNY南谷制作所ambda-visio拉姆达

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	江苏苏州日本进口晶圆在线测厚系统 GS-300	·可整合至300mm设备前端模组（EFEM）单元预备端口 ·实现嵌入晶片中的布线图案的对准(IR相机) ·可对应半导体制造的高生产量要求 ·可支持预对准校正功能 ·紧凑模式（W475mm×D555ｍｍ）
	江苏苏州日本分光干渉式晶圆膜厚仪 SF-3	非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速的即时研磨检测可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测可对应长工作距离、且容易安裝于产线或者设备中体积小、省空間、设备安装简易可对应线上检测的外部信号触发需求采用*适合膜厚检测的独自解析演算法。(已取得砖利) 可自动进行膜厚分布制图(选配项目)
	显微分光膜厚仪OPTM series	使用显微光谱法在微小区域内通过优良反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件
	相位差膜・光学材料检查设备　RETS-100	对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
	膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列	光谱仪（MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700）提供丰富选配套件以及客制化光纤，可依据安装现场需求评估设计，是一套可灵活架设于各种环境下的*佳即时测量系统
	多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA	利用动态光散射法(DLS法)的粒径测量（粒径0.6nm～10μm）仪器。追求更高品质管理的需求，搭载了各种功能。可对应检体范围广，低浓度～高浓度类，新光学系，轻便•小型，实验室标配。实现标准1分钟高速测量。新产品，非浸泡型，不受夹杂物的影响，无自动取样器，“5检体连续测量”的标准设备。
	ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000	此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，*小容量是130μL～的一次性cell。另，在0～90℃的大的温度范围内，测量自动温度的梯度空间，分析変性・相转移温度
	上海日本大冢OTSUKA自由臂式放大镜 OTSUKA	日本大冢(OTSUKA)_日本OTSUKA大冢自由臂式放大镜_

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