OTSUKA大塚電子 - 蘇州市新杉本電子科技有限公司

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	蘇州代理OTSUKA大塚厚量測儀 FE-300	蘇州代理OTSUKA大塚厚量測儀
	大冢電子帶有自動采樣器的濃縮粒度 FPAR-1000AS	大冢電子帶有自動采樣器FPAR-1000AS的濃縮粒度蘇州杉本
	大冢電子濃縮粒度分析儀FPAR-1000蘇州杉本直銷	大冢電子濃縮粒度分析儀FPAR-1000蘇州杉本直銷3
	大冢電子Zeta電位/粒度測量系統 ELSZ-1000ZS	大冢電子Zeta電位/粒度測量系統ELSZ-1000ZS蘇州杉本直銷
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	Otsuka 大冢電子動態光散射光度計 DLS-8000HH	Otsuka 大冢電子動態光散射光度計DLS-8000HH蘇州杉本出售
	Otsuka 大冢電子動態光散射光度計 DLS-8000HL	Otsuka 大冢電子動態光散射光度計DLS-8000HL蘇州杉本出售
	Otsuka 大冢電子動態光散射光度計 DLS-8000DL	Otsuka 大冢電子動態光散射光度計DLS-8000DL蘇州杉本出售
	大冢電子分子量測量系統蘇州杉本直銷 ELSZ-2000ZS	大冢電子分子量測量系統ELSZ-2000ZS蘇州杉本直銷
	安徽直銷大冢電子高靈敏度光譜輻射亮度計 HS-1000	蘇州杉本直銷大冢電子高靈敏度光譜輻射亮度計HS-1000
	FPR 系列日本CCS蘇州	FPR 系列從形成角度的發光面照射低角度擴散光。用途：金屬零件的邊緣檢測、電子零件的字符識別等
	日本ccs LKR 系列	LKR 系列從形成角度的發光部照射擴散光。用途：通過焊錫檢測、顏色識別進行不同品種混入檢測、光澤表面的污垢檢測等
	SQR-TP 系列日本ccs代理	SQR-TP 系列從形成角度的發光部低角度照射直射光。用途：金屬零件的外觀檢測、損傷與污垢檢測等
	江蘇蘇州SQR 系列日本CCS	SQR 系列從上方照射直射光。用途：字符識別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、二維代碼讀取等
	日本CCS LDR-LA1 系列	LDR-LA1 系列從水平方向的發光部低角度照射直射光。用途：金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、異物混入檢測等
	日本LDR2-LA 系列SSC江蘇蘇州	LDR2-LA 系列從形成角度的發光部低角度照射直射光。用途：金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、異物混入檢測等
	日本CCS LDR2 系列	LDR2 系列從形成角度的發光部照射直射光。用途：字符識別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、二維代碼讀取等
	量子效率測量系統　QE-2000/2100	量子效率測量系統　QE-2000/2100 瞬間測量優良量子效率（優良量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的迷光。另，采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系的同時，運用其再激勵熒光補正的優點，可進行高精度的測量。另，QE-2100對應范圍廣，從量子效率的溫度依賴性測量或紫外～近紅的的波長范圍。
	華東區域銷售多通道分光光譜儀 MCPD-9800 6800	多通道分光光譜儀 MCPD-9800 6800

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