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产品名称:
液晶层间隙(Cell gap)量测设备
产品型号:
以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TF
产品展商:
OTSUKA大冢光学
简单介绍
以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。
除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可量测液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。
液晶层间隙(Cell gap)量测设备的详细介绍
产品特点
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以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。
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除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可量测液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。
量测项目
产品规格
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样品对应尺寸
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20mm×20mm ～大型尺寸玻璃基板(2000mm×2000mm以上)
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液晶层间隙量测范围
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0.1μm ～ 数十μm
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液晶层间隙量测再现性
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±0.005μm
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检测器
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分光光谱仪
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量测波长范围
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400 ～ 800nm
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光学系统
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偏光光学系统
消光率10-5方解石偏光片(Gran-tomson prism)
自动旋转(角度 精度0.1°)
自动装卸装置
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量测口径
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φ2, 5, 10 (mm)
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光轴倾斜角度
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-10 ～ 45°(选配功能)
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重量
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约60kg
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光学配件
相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料