光学仪器光学材料 - 苏州市新杉本电子科技有限公司

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光学仪器光学材料下的更多分类

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	高动态范围分光光谱仪 cp-009	产品特点高动态范围(HDR)光谱仪可量测透明、低对比、高反射率样品，适用于量测光通量。有效抑制杂散光，适合UV光谱分析。相较于本公司历代分光光度计，杂光率仅约五分之一! 曝光时间5msec~65sec*。适用于量测微弱光源以及架设于生产线上即时检测等多元应用。经过特殊设计缠绕的光纤，展现稳定的重复再现性量测。小巧轻量化的设计，相较于历代机型，容积比约减少60%。
	紫外/可见/近红外光分光光谱仪	多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。 *适用于低辉度(0.3cd/m2)，如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。 16msec的高速光谱解析。灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件，可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。
	椭圆偏光膜厚量测仪（手动） cp-002	400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速量测椭圆偏光光谱。自动变更反射量测角度，可得到更详细的薄膜解析数据。采用正弦杆自动驱动方式，展现量测角度变更时优异的移动精度。搭载薄膜分析所需的全角度同时量测功能。可量测晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。
	椭圆偏光膜厚量测仪（手动）产品特点 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速量测椭圆偏光光谱。自动变更反射量测角度，可得到更详	400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速量测椭圆偏光光谱。自动变更反射量测角度，可得到更详细的薄膜解析数据。采用正弦杆自动驱动方式，展现量测角度变更时优异的移动精度。搭载薄膜分析所需的全角度同时量测功能。可量测晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。
	椭圆偏光膜厚量测仪（自动） cp-008	椭圆偏振术量测紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度量测。 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速量测椭圆偏光光谱。可自由变换反射量测角度，得到更详细的薄膜解析数据。非线性*小平方法解析多层膜、光学常数。
	反射式膜厚量测仪 cp-002	产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。高精度、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm) 薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm) 对应显微镜下的微距量测口径。
	LED高速光谱分析仪系统 cp-006	可配合LED生产线，或装置中的点灯讯号同步高速测量。透过Windows API关数(.dll)与客户端所使用的程式连结，提供数据解析及量测结果。(客户端须具备程式开发能力) 灵活运用各种光纤架构，提供合格判定，级别分类等不可或缺的品质管理。感光元件具备有电子冷却功能，轻松应付长时间的连续量测。高速化的量测，不妥协的高再现性数据。
	量子效率量测系统 cp-005	藉由**量子效率量测内部量子效率、外部量子效率。可量测粉体、固体、液体、薄膜样品量子效率。采用多通道分光光谱仪，可大幅降低紫外波长的杂散光。搭配积分半球系统(HalfMoon)，可消除再激发的萤光发光。激发光源采用光栅搭配滤光镜分光，可任意选择波长。使用BaSO4校正精度与量测再现性。备有可自动变温量测(～300℃)的温控套件。(QE-2100)
	近场分布光度计（配有成像亮度计）	通过多点表面亮度配光测量方法，测量精度高且省空间由二维亮度感应器测量多点表面亮度配光测角仪自动测量通过画像可确认样品的设置通过模拟计算任意位置的光强、亮度测量评价光强·亮度的强度·色度分布计算光通量功能对应IES格式输出
	配光量测系统 cp-003	对应*大1200mm的LED照明配光量测。自动控制2轴测角器，可量测各角度的光谱分布。依据不同角度之光谱分布可量测光强度与色度分布。采用高动态范围光谱仪分光，可检测HDR光谱。
	光通量量测系统	视用途可对应各种积分球尺寸。(*大可对应至φ3M积分球) 积分球设置有自我吸收补正灯源。采用高动态范围光谱仪分光，可检测HDR光谱。备有电源供应器，可自动变更电压、电流进行量测。(选配) 备有温度控制器，可自动变更温度进行量测。(选配)
	CIE平均化LED光度量测系统 cp-001	采用符合CIE平均化LED光强度量测规范之光学架构。搭配自动量测平台可对应LED阵列光度量测。采用高动态范围光谱仪分光，可检测HDR光谱。备有电源供应器，可自动变更电压、电流进行量测。(选配) 备有温度控制器，可自动变更温度进行量测。(选配)
	光通量量测系统(积分半球) cp-001	将样品之非发光组件设置于积分球外部，可降低发光源被吸收所产生之误差。以镜面反射，亮度(感度)达到2倍，提升量测精度。虚拟的对称配光，减低积分误差。搭配电源供应器，可自动变更电压、电流进行量测。(选配) 搭配温度控制器，可自动变更样品温度进行量测。(选配)
	液晶显示器(LCD)面板、模组检测设备 cp-008	可依据所测量的光电特性、温度特性评价LCD面板显示性能。可在-35℃～90℃的环境下，支援视角80°的360°视角锥测量(Viewing Cone)。
	动态画面清晰度检测仪 cp-008	以日本次世代PDP开发中心所发表之动态画面清晰度量测法为标准。(APDC方式) 可选择4～16pixel/frame的动态画面更新率(移动速度)。可量测各种显示器动画清晰度。采用摄影机追随动态画面，以*接近"观看者视觉"尺度的方式达到客观的清晰度评价。
	低相位差高速检测设备 cp-001	可测量从0nm开始的低相位差(残留应力)。检测光学轴的同时，同步高速测量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同时量测) 偏光检测仪无任何驱动元件干扰，可提高再现性量测精度。无需复杂参数设定，操作简单易懂。 550nm以外，亦可支援其它波长量测。 Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置) 搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。(特殊规格)
	相位差/光学材料量测设备 cp-007	可更加*的量测低相位差(0.1nm～) 适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的高精度相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。配合量测样品，自由架构量测平台。
	高感度分光放射辉度计 cp-005	光栅分光，展现辉度、色度、色温等高精度量测。超低辉度0.005cd/m2量测能力。对应CIE所推荐之波长范围(355nm～835nm)。独到的光学系统，降低偏光误差<1%，*适用于带有偏光特性的LCD显示器量测。量测，讯号传输仅约需1sec的高速评价。(连续量测时，约可达到20msec/次，甚至更快) 不需变更量测视野角测亦可达到大范围的辉度量测。(视野角2°时，可达到0.005cd/m 2～4,000cd/m2) 周期~曝光时间自动设定功能，可进行稳定的周期点灯量测。(输入点灯周期值，曝光时间自动以等倍数计算) 提供可同时量测显示器动态画面反应时间(MPRT)的扩充功能
	超高对比检测仪(Giga) cp-004	1亿:1的超高对比量测能力。 1亿:1对比以内之相对标准偏差3%以下。可量测黑辉度的调光变化。实现3秒高速量测。在简易暗室环境即可进行量测。可提供客制化的解决方案。
	膜厚光谱分析仪系统 MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700	光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。可依据安装现场需求评估设计。可灵活架设于各种环境下的*佳即时量测系统。

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