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CIE平均化LED光度量測系統[產品打印頁面]

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產品名稱: CIE平均化LED光度量測系統
產品型號: cp-001
產品展商: OTSUKA大冢光學

簡單介紹
采用符合CIE平均化LED光強度量測規范之光學架構。 搭配自動量測平臺可對應LED陣列光度量測。 采用高動態范圍光譜儀分光,可檢測HDR光譜。 備有電源供應器,可自動變更電壓、電流進行量測。(選配) 備有溫度控制器,可自動變更溫度進行量測。(選配)

CIE平均化LED光度量測系統的詳細介紹

產品特點

  • 采用符合CIE平均化LED光強度量測規范之光學架構。
  • 搭配自動量測平臺可對應LED陣列光度量測。
  • 采用高動態范圍光譜儀分光,可檢測HDR光譜。
  • 備有電源供應器,可自動變更電壓、電流進行量測。(選配)
  • 備有溫度控制器,可自動變更溫度進行量測。(選配)

量測項目

  • 發光光譜測量
  • 色度測量

量測項目

・CIE平均化LED光度〔JIS C8152〕
・放射光通量(光譜)
・色度座標(u,v)〔CIE 1960UCS〕
・色度座標(x,y)〔JIS Z 8724〕
・色度座標(u',v')〔CIE 1976UCS〕
・相關色溫與Duv〔JIS Z 8725〕
・主波長(Dominant)與刺激純度(Purity)〔JIS Z 8701:1999〕
・演色指數(Ra,R1~R15 )〔JIS Z 8726〕

  視角 [sr] 距離 [m]
Condition A 0.001(2deg.) 0.316
Condition B 0.01(6.5deg.) 0.100
   
a.jpg b.jpg
Condition A Condition B

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