光學儀器光學材料 - 蘇州市新杉本電子科技有限公司

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光學儀器光學材料下的更多分類

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	高動態范圍分光光譜儀 cp-009	產品特點高動態范圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品，適用于量測光通量。有效抑制雜散光，適合UV光譜分析。相較于本公司歷代分光光度計，雜光率僅約五分之一! 曝光時間5msec~65sec*。適用于量測微弱光源以及架設于生產線上即時檢測等多元應用。經過特殊設計纏繞的光纖，展現穩定的重復再現性量測。小巧輕量化的設計，相較于歷代機型，容積比約減少60%。
	紫外/可見/近紅外光分光光譜儀	多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。功能豐富的專用軟體，可進行顯微分光、發光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。 *適用于低輝度(0.3cd/m2)，如螢光、電漿發光等微弱光以及光源、顯示器量測。 16msec的高速光譜解析。靈活堅固的光纖搭配多元的選配附件，可架設于生產線上、真空環境或嵌入于現有設備中即時性量測。
	橢圓偏光膜厚量測儀（手動） cp-002	400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測橢圓偏光光譜。自動變更反射量測角度，可得到更詳細的薄膜解析數據。采用正弦桿自動驅動方式，展現量測角度變更時優異的移動精度。搭載薄膜分析所需的全角度同時量測功能。可量測晶圓與金屬表面的光學常數(n:折射率、k:消光系數)。
	橢圓偏光膜厚量測儀（手動）產品特點 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測橢圓偏光光譜。自動變更反射量測角度，可得到更詳	400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測橢圓偏光光譜。自動變更反射量測角度，可得到更詳細的薄膜解析數據。采用正弦桿自動驅動方式，展現量測角度變更時優異的移動精度。搭載薄膜分析所需的全角度同時量測功能。可量測晶圓與金屬表面的光學常數(n:折射率、k:消光系數)。
	橢圓偏光膜厚量測儀（自動） cp-008	橢圓偏振術量測紫外光到可見光波長橢圓參數。 0.1nm以上奈米級光學薄膜厚度量測。 400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測橢圓偏光光譜。可自由變換反射量測角度，得到更詳細的薄膜解析數據。非線性*小平方法解析多層膜、光學常數。
	反射式膜厚量測儀 cp-002	產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。高精度、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm) 薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm) 對應顯微鏡下的微距量測口徑。
	LED高速光譜分析儀系統 cp-006	可配合LED生產線，或裝置中的點燈訊號同步高速測量。透過Windows API關數(.dll)與客戶端所使用的程式連結，提供數據解析及量測結果。(客戶端須具備程式開發能力) 靈活運用各種光纖架構，提供合格判定，級別分類等不可或缺的品質管理。感光元件具備有電子冷卻功能，輕松應付長時間的連續量測。高速化的量測，不妥協的高再現性數據。
	量子效率量測系統 cp-005	藉由**量子效率量測內部量子效率、外部量子效率。可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。采用多通道分光光譜儀，可大幅降低紫外波長的雜散光。搭配積分半球系統(HalfMoon)，可消除再激發的螢光發光。激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長。使用BaSO4校正精度與量測再現性。備有可自動變溫量測(～300℃)的溫控套件。(QE-2100)
	近場分布光度計（配有成像亮度計）	通過多點表面亮度配光測量方法，測量精度高且省空間由二維亮度感應器測量多點表面亮度配光測角儀自動測量通過畫像可確認樣品的設置通過模擬計算任意位置的光強、亮度測量評價光強·亮度的強度·色度分布計算光通量功能對應IES格式輸出
	配光量測系統 cp-003	對應*大1200mm的LED照明配光量測。自動控制2軸測角器，可量測各角度的光譜分布。依據不同角度之光譜分布可量測光強度與色度分布。采用高動態范圍光譜儀分光，可檢測HDR光譜。
	光通量量測系統	視用途可對應各種積分球尺寸。(*大可對應至φ3M積分球) 積分球設置有自我吸收補正燈源。采用高動態范圍光譜儀分光，可檢測HDR光譜。備有電源供應器，可自動變更電壓、電流進行量測。(選配) 備有溫度控制器，可自動變更溫度進行量測。(選配)
	CIE平均化LED光度量測系統 cp-001	采用符合CIE平均化LED光強度量測規范之光學架構。搭配自動量測平臺可對應LED陣列光度量測。采用高動態范圍光譜儀分光，可檢測HDR光譜。備有電源供應器，可自動變更電壓、電流進行量測。(選配) 備有溫度控制器，可自動變更溫度進行量測。(選配)
	光通量量測系統(積分半球) cp-001	將樣品之非發光組件設置于積分球外部，可降低發光源被吸收所產生之誤差。以鏡面反射，亮度(感度)達到2倍，提升量測精度。虛擬的對稱配光，減低積分誤差。搭配電源供應器，可自動變更電壓、電流進行量測。(選配) 搭配溫度控制器，可自動變更樣品溫度進行量測。(選配)
	液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測設備 cp-008	可依據所測量的光電特性、溫度特性評價LCD面板顯示性能。可在-35℃～90℃的環境下，支援視角80°的360°視角錐測量(Viewing Cone)。
	動態畫面清晰度檢測儀 cp-008	以日本次世代PDP開發中心所發表之動態畫面清晰度量測法為標準。(APDC方式) 可選擇4～16pixel/frame的動態畫面更新率(移動速度)。可量測各種顯示器動畫清晰度。采用攝影機追隨動態畫面，以*接近"觀看者視覺"尺度的方式達到客觀的清晰度評價。
	低相位差高速檢測設備 cp-001	可測量從0nm開始的低相位差(殘留應力)。檢測光學軸的同時，同步高速測量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同時量測) 偏光檢測儀無任何驅動元件干擾，可提高再現性量測精度。無需復雜參數設定，操作簡單易懂。 550nm以外，亦可支援其它波長量測。 Rth量測、全角度量測。(需搭配自動旋轉傾斜裝置) 搭配拉力測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性。(特殊規格)
	相位差/光學材料量測設備 cp-007	可更加*的量測低相位差(0.1nm～) 適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的高精度相位差量測。可選配傾斜式、旋轉式量測平臺，評估三次元折射率參數解析等視野角特性。配合量測樣品，自由架構量測平臺。
	高感度分光放射輝度計 cp-005	光柵分光，展現輝度、色度、色溫等高精度量測。超低輝度0.005cd/m2量測能力。對應CIE所推薦之波長范圍(355nm～835nm)。獨到的光學系統，降低偏光誤差<1%，*適用于帶有偏光特性的LCD顯示器量測。量測，訊號傳輸僅約需1sec的高速評價。(連續量測時，約可達到20msec/次，甚至更快) 不需變更量測視野角測亦可達到大范圍的輝度量測。(視野角2°時，可達到0.005cd/m 2～4,000cd/m2) 周期~曝光時間自動設定功能，可進行穩定的周期點燈量測。(輸入點燈周期值，曝光時間自動以等倍數計算) 提供可同時量測顯示器動態畫面反應時間(MPRT)的擴充功能
	超高對比檢測儀(Giga) cp-004	1億:1的超高對比量測能力。 1億:1對比以內之相對標準偏差3%以下。可量測黑輝度的調光變化。實現3秒高速量測。在簡易暗室環境即可進行量測。可提供客制化的解決方案。
	膜厚光譜分析儀系統 MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700	光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供豐富選配套件以及客制化光纖。可依據安裝現場需求評估設計。可靈活架設于各種環境下的*佳即時量測系統。

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