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產品名稱:
量子效率量測系統
產品型號:
cp-005
產品展商:
OTSUKA大冢光學
簡單介紹
藉由**量子效率量測內部量子效率、外部量子效率。
可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。
采用多通道分光光譜儀,可大幅降低紫外波長的雜散光。
搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除再激發的螢光發光。
激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長。
使用BaSO4校正精度與量測再現性。
備有可自動變溫量測(~300℃)的溫控套件。(QE-2100)
量子效率量測系統的詳細介紹
產品特點
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藉由**量子效率量測內部量子效率、外部量子效率。
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可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。
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采用多通道分光光譜儀,可大幅降低紫外波長的雜散光。
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搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除再激發的螢光發光。
-
激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長。
-
使用BaSO4校正精度與量測再現性。
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備有可自動變溫量測(~300℃)的溫控套件。(QE-2100)
系統構成圖

產品規格
降低雜散光的多通道分光光譜儀
波長范圍
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250nm ~800nm (視光譜儀規格)
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光譜儀分光元件
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全息成像光柵、F=3、f=135mm
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波長精度
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±0.3 nm
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感光元件
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電子冷卻型CCD影像感測器
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感光元件解析能力
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1.2nm / pixel
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受光光纖
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石英制光纖、外層金屬包覆、固定口徑φ12mm
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激發光源系統
激發光源套件
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250nm ~800nm (視光譜儀規格)
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激發波長范圍
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全息成像光柵、F=3、f=135mm
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波長掃描方式
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±0.3 nm
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其它
電源
消耗電力
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700VA
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AC輸入
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100V ±10% 50 / 60Hz
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量測范圍