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量子效率量測系統[產品打印頁面]

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產品名稱: 量子效率量測系統
產品型號: cp-005
產品展商: OTSUKA大冢光學

簡單介紹
藉由**量子效率量測內部量子效率、外部量子效率。 可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。 采用多通道分光光譜儀,可大幅降低紫外波長的雜散光。 搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除再激發的螢光發光。 激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長。 使用BaSO4校正精度與量測再現性。 備有可自動變溫量測(~300℃)的溫控套件。(QE-2100)

量子效率量測系統的詳細介紹

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產品特點

  • 藉由**量子效率量測內部量子效率、外部量子效率。
  • 可量測粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率。
  • 采用多通道分光光譜儀,可大幅降低紫外波長的雜散光。
  • 搭配積分半球系統(HalfMoon),可消除再激發的螢光發光。
  • 激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長。
  • 使用BaSO4校正精度與量測再現性。
  • 備有可自動變溫量測(~300℃)的溫控套件。(QE-2100)
  • 熒光測量

系統構成圖

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產品規格

降低雜散光的多通道分光光譜儀

波長范圍 250nm ~800nm (視光譜儀規格)
光譜儀分光元件 全息成像光柵、F=3、f=135mm
波長精度 ±0.3 nm
感光元件 電子冷卻型CCD影像感測器
感光元件解析能力 1.2nm / pixel
受光光纖 石英制光纖、外層金屬包覆、固定口徑φ12mm

激發光源系統

激發光源套件 250nm ~800nm (視光譜儀規格)
激發波長范圍 全息成像光柵、F=3、f=135mm
波長掃描方式 ±0.3 nm

其它

積分半球設備(HalfMoon) φ150mm

電源

消耗電力 700VA
AC輸入 100V ±10% 50 / 60Hz

量測范圍

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