光学仪器光学材料 - 苏州市新杉本电子科技有限公司

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光学仪器光学材料下的更多分类

CARTON日本卡通	**眼镜	无铅焊锡对应台式机器人	显微镜	照相机
PEAK日本必佳	放大镜

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	动态画面反应时间检测仪 cp-003	采用模拟人类眼球移动方式的动态追踪型CCD，更贴近于人类的真实视觉。以**的演算法确立时间轴的标准，便于在各种显示器之间进行比较。包括在样品的动画显示过程,所有量测与分析的步骤均由电脑所控制，操作容易、上手简单。任何点阵图画素的动态画面特性评价。黑白、彩色两种规格的CCD，对应大小尺寸面板。
	平面显示器(FPD)大尺寸样品专 cp-002	高精度量测各种玻璃基板上的多层膜及光学常数。*新的10代基板尺寸，LCD、TFT、PDP、OLED(有机EL)等制程所需的膜层解析皆有完整的解决方案
	彩色滤光片色度检查机 cp-001	透过率、色度、光学浓度、膜厚、反射率、线宽等测量，完整支援彩色滤光片制程中检测评价。拥有业界标竿水准的量测稳定性，对应任何世代尺寸的优异光学量测设备。全自动对焦、全自动画素搜索定位功能，微距光学口径的高精度测量，支援全自动检查。对应喷墨式涂布(Inkjet Printer)制程的全画素量测
	液晶层间隙(Cell gap)量测设备以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TF	以穿透、半穿透方式量测TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可量测液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。
	OLED元件光电特性检测设备	关键性的光谱仪除采用高感度之高感度分光光谱仪(MCPD-7000)以外，亦可搭配新产品"高感度分光放射辉度计"及其相关套件达到更深度的检测能力。驱动亮灯用的直流电源，*适合作为辉度、色度、LIV测量、发光效率、外部量子效率等OLED元件光学特性之综合性评估。
	高感度分光放射亮度计 HS-1000	光栅分光，展现辉度、色度、色温等高精度测量。超低辉度0.005cd/m2测量能力。对应CIE所推荐之波长范围( 355nm～835nm )。独到的光学系统，降低偏光误差<1%，*适用于带有偏光特性的LCD显示器测量。测量，讯号传输仅约需1sec的调整评价。 (连贯测量时，约可达到20msec/次，甚至更快) 不需变更测量视野角测亦可达到大范围的辉度测量。 (视野角2°时，可达到0.005cd/m2～4,000cd/m2) 周期~曝光时间自动设定功能，可进行稳定的周期点灯测量。 (输入点灯周期值，曝光时间自动以等倍数计算) 提供可同时测量显示器动态画面反应时间(MPRT)的扩充功能。
	显微分光膜厚仪	膜厚测量中必要的功能集中于头部。通过显微分光高精度测量反射率（多层膜厚、光学常数）。 1点只需不到1秒的高速tact。实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）。通过区域传感器控制的构造。搭载可私人定制测量顺序的强大功能。即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。各种私人定制对应（固定平台，有嵌入式测试头式样）。
	光谱仪 (MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700	光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。可依据安装现场需求评估设计。可灵活架设于各种环境下的*佳即时量测系统。
	日本HOZAN 放大镜L-677 L-677	日本HOZAN 放大镜L-677 放大镜L-677日本HOZAN HOZAN日本放大镜L-677 日本HOZAN 放大镜L-677
	日本铃木SUZUKI牌/IM3000/切碎机 IM3000	日本铃木SUZUKI牌/IM3000/切碎机/日本铃木SUZUKI牌IM3000切碎机/日本铃木SUZUKI牌IM3000切碎机
	日本PEAK必佳放大镜 NO-2046	必佳牌放大镜必佳牌 PEAK牌放大镜 NO-2046 日本PEAK必佳牌 PEAK牌必佳牌放大镜必佳牌 PEAK牌放大镜 NO-2046 日本PEAK必佳牌 PEAK牌
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