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平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專[產品打印頁面]

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產品名稱: 平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專
產品型號: cp-002
產品展商: OTSUKA大冢光學

簡單介紹
高精度量測各種玻璃基板上的多層膜及光學常數。*新的10代基板尺寸,LCD、TFT、PDP、OLED(有機EL)等制程所需的膜層解析皆有完整的解決方案

平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專的詳細介紹

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產品特點

  • 從規劃設計、開發制造、到現場安裝調整及教學支援等,皆秉持一貫的品質自行完成。
  • 面對市場多元化的需求,以優異的技術、豐富的實績、安心的售后服務,提供*完善的膜厚解析方案。

量測項目

  • 膜厚測量
  • Array測量

顯示器面板膜厚分析設備FE series

解析面板顯示器制程中持續進化的各種薄膜

高精度量測各種玻璃基板上的多層膜及光學常數。*新的10代基板尺寸,LCD、TFT、PDP、OLED(有機EL)等制程所需的膜層解析皆有完整的解決方案。

用途

LCD ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
TFT SiN/a-Si/Glass
OLED OLED/ITO/Glass
PDP 誘電體層/Glass

半導體膜厚分析設備FE series

對應φ300mm晶圓的全自動搬送系統

可搭配各種Load/Unload搬送規格,從R&D到生產線皆可靈活運用的膜厚解析系統。1枚樣品中,量測5個點位僅需30秒以下的高速膜厚評價。

用途

Si半導體晶圓膜 SiO2/Si、Resist/Si、SiO2/a-Si、SiO2/SiN/SiO2
半導體膜 TEOS、SiNX、SiOx等
化合物半導體 GaAs、GaN、InGaAs等
其它 光學材料、誘導體材料、金屬膜等
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