OTSUKA大塚電子 - 蘇州市新杉本電子科技有限公司

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分類

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	膜厚量測儀　FE-300	膜厚量測儀　FE-300
	蘇州杉本低相位差高速檢查設備　RE-200	光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02° 低相位差測量
	蘇州杉本大冢線掃描膜厚儀[離線型]	·高速·高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測 ·硬件·軟件均為設計 ·作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 ·實現高精度測量（已取得磚利） ·實現高速測量（500萬點以上/分）
	膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列蘇州	光譜儀（MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700）提供豐富選配套件以及客制化光纖，可依據安裝現場需求評估設計，是一套可靈活架設于各種環境下的*佳即時測量系統
	杉本晶圓在線測厚系統 GS-300	搭載圖案對準功能，X-Y位置確認精度2μm以下。
	蘇州杉本低相位差高速檢查設備 RE-200	光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02° 低相位差測量
	高感度分光放射亮度儀HS-1000 蘇州	高感度分光放射亮度儀HS-1000
	液晶層間隙量測設備　RETS series 代理	液晶層間隙量測設備　RETS series 代理
	杉本相位差膜光學材料檢查設備莆田供應 RETS-100	相位差膜・光學材料檢查設備　RETS-100 對應范圍廣，從反射型・透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應
	蘇州杉本高速配光測量系統GP-7	它是一種單獨評估光源或光學材料光分布的設備。實現10分鐘的測量時間，顛覆分布測量常識！僅一次測量可捕獲每個空間照度！支持其他公司的光學設計軟件處理的數據格式！設備尺寸緊湊， 1.5平方米角落即可收納！也可輸出通用IES格式的配光數據！從光源的光分布測量到透鏡和薄膜等材料的光學特性，擁有廣泛的測量評估范圍。
	大冢分光配光測量系統GPseries蘇州 GPseries	這是測量照明設備的光分布特性的裝置。 •使用內部開發的光譜儀實現高精度測量！ •可以使用配光數據進行顏色測量！ •即使在光譜測量中也能實現同等于發光計的高速測量！ •可根據配光測量結果進行照明系數分析！！ •符合標準的測量系統！ •也可以通過測量標準部門提供技術支持！可以處理各種照明設備，從室內照明到光投影儀，滿足多種用途的要求。
	杉本大冢全光束測量系統　HM/FM series	測量從LED到照明器具的各種光源的總光通量。 • 積分球+光譜儀，可處理從總光通量到顏色測量的廣泛范圍 • 光源的加熱/冷卻控制使溫度特性評估成為可能 • 直流交流電源系統一齊控制。避免操作麻煩 • 整體半球測量精度高，樣品設置簡單還支持瓦特級別高功率激光光源的測量長年的豐富經驗，保證了各種光通量測量場景的對應，根據需要設置測量系統
	高速LED光學特性儀　LE series	LED的光學特性評價可同產線的控制信號同步，能在線高速運行的裝置。 LE-5400提供NG判定或級別分類等品質管理所必要的光學特性信息
	高速近場配光測量系統 RH50 杉本	高速近場配光測量系統RayHunter可用于評價光源單體和光學材料的配光。 RH50配光測量系統可對應微型LED等小型樣品。可與光學模擬軟件配合使用，輕松且快速獲取2n空間內全方位的光線。50×50mm以上的尺寸請參照RH300/RH600/RH1000。
	常州供應高速近場配光測量系統 RH300	・超高速測量。與傳統方法相比測量時間大幅度減少。（約10分）・一次測量，即可計算出多條件下的測量結果。・藉由二次元亮度傳感器實現近場測量・設置在暗箱中無需特意準備暗室。・獨有的照度・光度計算算法實現高S/N比・可計算出任意位置・距離的照度・光度・任意光線數據，轉化為IES格式可配合光學模擬軟件。
	量子效率測量系統　QE-2000/2100 蘇州杉本	瞬間測量優良量子效率（優良量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區域的迷光。另，采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系的同時，運用其再激勵熒光補正的優點，可進行高精度的測量。另，QE-2100對應范圍廣，從量子效率的溫度依賴性測量或紫外～近紅的的波長范圍。
	江蘇ZETA電位粒徑分子量測系統 ELSZ-2000	ZETA電位･粒徑･分子量測系統 ELSZ-2000
	江蘇蘇州大冢嵌入式膜厚檢測儀 FE-3	•采用分光干涉法 •搭載高精度FFT膜厚解析系統（磚利第4834847號） •使用光學光纖，可靈活構筑測量系統 •可嵌入至各種制造設備。 •實時測量膜厚 •可對應遠程操作、多點測量 •采用壽命長、**性高的白色LED光源
	江蘇蘇州小角激光散射儀 PP-1000	PP-1000小角激光散射儀利應用了小角光激光光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光板的Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價，解析結晶性膠片的球晶半徑，Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關距離的分析。
	江蘇蘇州日本進口線掃描膜厚儀	·采用線掃描方式檢測整面薄膜 ·硬件·軟件均為*設計 ·作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 ·實現高精度測量（已獲取磚利） ·實現高速測量 ·不受偏差影響 ·可對應寬幅樣品（TD方向大可測量10m）

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